Thiết Bị Phân Tích Kích Thước Hạt (DLS), Thế Zeta Và Trọng Lượng Phân Tử

REDTEK là đại lý chính thức của HORIBA phân phối thiết bị phân tích kích thước hạt (DLS), thế zeta và trọng lượng phân tử model SZ-100Z2.

Mô tả

Thiết bị phân tích kích thước hạt nano (DLS), thế zeta và trọng lượng phân tử

Thiết Bị Phân Tích Kích Thước Hạt (DLS), Thế Zeta Và Trọng Lượng Phân Tử

Model: SZ-100Z2

Hãng: HORIBA – Nhật Bản

 

– Phân tích thế Zeta: -500 to +500 mV

– Phân tích cỡ hạt: 0.3 nm to 10 µm

– Trọng lượng phân tử: 5.4 x 102 đến 2 x 107 Da

 

Đặc tính nổi bật 

Thiết bị đo kích thước hạt nano có khả năng đo phân bố kích thước hạt thông qua sự phát hiện các ánh sáng tán xạ gây ra bởi các hạt trong mẫu tuân theo nguyên lý tán xạ ánh sáng động học (DLS) hay photon tương quan quang phổ (PCS). Máy có thể đo điện thế zeta và trọng lượng phân tử của các hệ thống hạt sử dụng laser Doppler điện và các thông số Debye (sử dụng tĩnh tán xạ ánh sáng) tương ứng.

Tuân theo tiêu chuẩn ISO 13321:1996, ISO/DIS 22412:2008 và JIS Z8826:2005

Thiết bị có khoảng động học rộng, khả năng đo được kích thước hạt từ xấp xỉ 0.0003 µm (0.3 nm) tới 10 µm (10000 nm) đồng thời từ khoảng nồng độ ppm lên tới 40% khối lượng (phụ thuộc vào mẫu).

Thông số kỹ thuật

* Đo thế Zeta:

  • Nguyên lý đo thế zeta – phương pháp tán xạ ánh sáng quang-điện tử.
  • Dải đo thế Zeta: -500 to +500 mV
  • Bước sóng nguồn laser: 532 nm
  • Công suất nguồn laser: nguồn laser 10 mW
  • Nguồn sáng: Laser diode pumped frequency doubled
  • Đầu đo: detector photo multi plier PMT
  • Dải nồng độ mẫu (% thể tích): 0.001% đến 40%

* Đo cỡ hạt

  • Nguyên lý đo kích thước cỡ hạt: phương pháp phổ kế tương quan photon (PCS) và tán xạ ánh sáng động(DLS).
  • Dải đo kích thước cỡ hạt: 0.3 nm đến 10000 nm
  • Dải nồng độ mẫu (% thể tích): 0.00001% đến 40%
  • Bước sóng nguồn laser: 532 nm (ASTM E2490-09 khuyến cáo sử dụng bước sóng ngắn hơn 632.8nm), bước sóng càng ngắn năng lượng càng tốt.
  • Công suất nguồn laser: 10 mW
  • Nguồn sáng: Laser diode bán dẫn
  • Đầu đo: detector photo multi plier PMT
  • Góc tán xạ: 90° tán xạ cạnh và 1730 tán xạ ngược giúp khách hàng có lựa chọn đa dạng về nồng độ phép đo.

* Nhiệt độ

  • Công nghệ điều nhiệt: Peltier
  • Nhiệt độ buồng phân tích mẫu: 1oC đến 90 oC

* Trọng lượng phân tử

  • Hai phương pháp đo: Tán xạ ánh sáng động (DLS) sử dụng hệ số khuếch tán và Tán xạ ánh sáng tính (SLS) sử dụng đồ thị Debye Plot
  • Góc tán xạ ánh sáng: 173° Tán xạ ngược
  • Thể tích mẫu tối thiểu: Cell đo mẫu thủy tinh tiêu chuẩn: 1 mL
  • Nồng độ: phụ thuộc vào mẫu
  • Dải đo: 5.4×102 đến 2×107 Da
  • Nguồn sáng: Laser diode bán dẫn
  • Cảm biến đo: : detector photo multi plier PMT

Dòng máy phân tích kích thước hạt nano (DLS) SZ-100 của HORIBA có thể cung cấp thông tin về kích thước hạt, trọng lượng phân tử (MW) và thế zeta (ZP) cho các vật liệu nano khác nhau có kích thước hạt xuống đến 0.3nm.

Có 2 dòng:

SZ-100S2: Đo kích thước và trọng lượng phân tử

SZ-100Z2: Đo kích thước, trọng lượng phân tử và thế zeta.


Quý khách hàng vui lòng liên hệ với chúng tôi qua HOT LINE 0898 414 604 hoặc email [email protected] | Để có giá Thiết bị phân tích kích thước hạt nano (DLS), thế zeta và trọng lượng phân tử tốt nhất! Quý khách hàng vui lòng tham khảo thêm Các sản phẩm thiết bị thí nghiệm khác trên website của chúng tôi.

Brand

HORIBA